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天瑞参加BCEIA
 ——天瑞仪器携质谱系列产品盛装亮相BCEIA

     “第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会”(简称:BCEIA)近日在北京国家会议中心隆重开幕,本次大会由中华人民共和国科学技术部批准,中国分析测试协会主办。BCEIA每两年举办一次,是国内分析测试行业内知名度及专业度最高的盛会。   天瑞仪器董事长刘召贵博士,总经理应刚先生率队参加了此次盛会,天瑞仪器在开展的第一天就收到了极大的关注,同行业,客户,等等都争先来了解。

董事长刘博士与来访客户现场交流

总经理应刚先生与来访进行现场交流

天瑞仪器质谱事业部总经理周立博士与客户现场交流

天瑞仪器光谱事业部总经理韦大纶与客户现场交流

     天瑞仪器此次参展带了众多样品,环保检测设备,全面展示了近两年公司在新产品研发、产品升级、行业应用、解决方案制定等方面取得的丰硕成果。

     天瑞质谱家族的新成员基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF首次亮相展会,就成为了展台现场的关注焦点,作为中国首款具有完全自主产权的商品化基质辅助激光解析/离子源-飞行时间质谱仪,Micro TyperMS的诞生开启了国产生物质谱的新时代;历经3年市场磨砺,2015年全新推出的ICP-MS 2000E,拥有全新的碰撞反应池功能、新型离子源设计、高效准确的自动进样器、软件集成应用分析包,极大的提升了仪器整体性能指标和性价比;备受业界广泛认可的气相色谱质谱联用仪GC-MS 6800,在食品、纺织、RoHS、环境等多个领域的定制方案,更贴心的为客户提供专业的一站式解决方案;国产化的GC-TOFMS系列iTOF-1G、iTOF-2G,具有高分辨率、高灵敏度和高采集速度的卓越性能,实现了飞行时间质谱与快速气相色谱的完美对接;性能卓越、全新配备自动进样器的液相色谱质谱联用仪LC-MS1000;为粮食重金属检测量身打造的EDX 3200S plus C智能型食品重金属快速检测仪、电感耦合等离子体发射光谱仪ICP 3000、全新一代手持式X荧光光谱仪探索者EXPLORER,创新一体式设计的EHM-X200大气重金属分析仪等明星产品也都悉数登场。还包括ROHS2.0检测仪器,环保检测仪器,X荧光光谱仪,膜厚仪。

     天瑞仪器承担的 “国家重大科学仪器设备开发专项”的WDX 4000顺序式波长色散X荧光光谱仪也受邀来到“国家重大科学仪器设备开发专项阶段成果展”展示区参加展示。