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膜厚仪X荧光光谱仪
www.skyraytest.com               X荧光膜厚仪是膜厚仪的一种,天瑞公司的新产品THICK800A膜厚仪也是XRF,荧光射线装置能得到某种物质的元素信息,包括物质组成成分和元素信息。膜厚仪也叫X射线测厚仪,它的原理是被X荧光照射的物质会吸收多余的能量变成不稳定的状态,而从不稳定回复稳定,必须将多余的能量释放出来,释放的方式是通过光或者荧光,而X荧光光谱仪(例如膜厚仪或者成分分析仪)就是用来测量这些被释放出来的光的强度以及能量,并进行定量或者定性的分析。目前,天瑞公司生产的膜厚仪THICK800A已经完全产业化,有效地应用于电镀,电子,卫浴等多个领域,以其优良的品质和富有竞争力的价格迅速赢得广大客户的青睐。